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发布日期:2023-08-01 点击次数:55

纳米粒子透射电镜（TEM）是一种重要的显微镜技术，被广泛用于观察和表征纳米级颗粒和材料的结构和形貌。

TEM使用高能电子束通过样品薄片来观察样品的微观细节。在TEM中，电子束经过透镜系统进行聚焦，然后穿过样品，与样品中的原子或分子发生相互作用。通过收集透射电子束的信息，可以获得样品的高分辨率影像和衍射图样，从而揭示其内部结构和组成。

以下是使用TEM测试样品的一般步骤：

1. 样品制备：首先，需要将待测样品制备成足够薄的样品薄片。常用的制备方法包括机械切片、离子磨薄、离心沉积、聚焦离子束（FIB）切割等。

2. 样品加载：将制备好的样品薄片放置在TEM样品载架上，并确保其固定稳定。

3. 仪器设置：设置TEM所需的加速电压、聚焦和对准功能等参数。通常还需要选择合适的镜片设置和模式，以获取所需的图像信息。

4. 观察和调整：将样品载架插入TEM仪器中，并使用目镜或显微镜观察样品。在合适的放大倍数下，观察样品的形貌和结构是否符合要求，并根据需要进行调整和优化。

5. 拍摄图像：选择合适的镜片设置和曝光时间，通过TEM系统拍摄样品的高分辨率影像。可以采集不同区域和角度的图像以获取更全面的信息。

6. 数据分析：对TEM图像进行分析和解释，包括测量颗粒尺寸、表面形貌、晶体结构等。还可以进行相应的能谱分析和衍射图样分析，以获得元素组成和晶体结构信息。

TEM是一种高分辨率的显微镜技术，常用于研究纳米颗粒、纳米材料、纳米结构等。它可以提供纳米级别的细节观察和分析，对于理解材料的结构性质、纳米颗粒的形貌和组成，以及纳米尺度现象的研究都具有重要作用。